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基于高精度同步多测尺的半导体激光测距装置与方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104035087B, 申请日期: 2017-01-18, 公开日期: 2017-01-18
发明人:  谭久彬;  杨宏兴;  胡鹏程
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超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104049248B, 申请日期: 2016-10-12, 公开日期: 2016-10-12
发明人:  杨宏兴;  谭久彬;  胡鹏程
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可溯源超外差式精测尺混合激光器测距装置与方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104133207B, 申请日期: 2016-10-12, 公开日期: 2016-10-12
发明人:  杨宏兴;  谭久彬;  胡鹏程
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基于可溯源同步测尺的混合双光源激光测距装置与方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104155642B, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24
发明人:  谭久彬;  杨宏兴;  胡鹏程
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抗多频混叠的高精度同步测尺半导体激光测距装置与方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104049250B, 申请日期: 2016-07-06, 公开日期: 2016-07-06
发明人:  杨宏兴;  谭久彬;  胡鹏程
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基于可溯源同步多测尺的混合激光器测距装置与方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN105318839A, 申请日期: 2016-02-10, 公开日期: 2016-02-10
发明人:  杨宏兴;  谭久彬;  胡鹏程
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混合外差式多频抗混叠激光测距装置与方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN104048642A, 申请日期: 2014-09-17, 公开日期: 2014-09-17
发明人:  杨宏兴;  谭久彬;  胡鹏程
Adobe PDF(1712Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2019/12/31
抗多频混叠的可溯源同步测尺双光源激光测距装置与方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN104035088A, 申请日期: 2014-09-10, 公开日期: 2014-09-10
发明人:  谭久彬;  杨宏兴;  胡鹏程
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基于可溯源精测尺的半导体激光器测距装置与方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN104034264A, 申请日期: 2014-09-10, 公开日期: 2014-09-10
发明人:  谭久彬;  杨宏兴;  胡鹏程
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抗光学混叠的可溯源精测尺半导体激光测距装置与方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN104035089A, 申请日期: 2014-09-10, 公开日期: 2014-09-10
发明人:  谭久彬;  杨宏兴;  胡鹏程
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