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一种纳米颗粒计数检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN204514758U, 申请日期: 2015-07-29, 公开日期: 2015-07-29
发明人:  孙吉勇;  梁凤飞;  沈玮栋;  周大农;  苏玉芳
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一种纳米颗粒计数检测装置及检测方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN104677789A, 申请日期: 2015-06-03, 公开日期: 2015-06-03
发明人:  孙吉勇;  梁凤飞;  沈玮栋;  周大农;  苏玉芳
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