Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 一种纳米颗粒计数检测装置及检测方法 | |
| 其他题名 | 一种纳米颗粒计数检测装置及检测方法 |
| 孙吉勇; 梁凤飞; 沈玮栋; 周大农; 苏玉芳 | |
| 2015-06-03 | |
| 专利权人 | 江苏苏净集团有限公司 |
| 公开日期 | 2015-06-03 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 本发明涉及一种基于激光相干原理的纳米颗粒计数检测方法及检测装置，基于该方法的传感器结构包括：半导体激光器，入射光纤，样品池，出射光纤、光电探测器和信号处理电路。位于样品池检测通道两侧的入射光纤端面和出射光纤端面相互平行，形成一个干涉腔。半导体激光器发出的相干光通过干涉腔时，会发生多光束干涉。当待测液体或气体介质中的微小颗粒通过干涉腔时，会改变干涉腔的有效光程，从而使得透射光的干涉光强发生变化。利用光电探测器求出透射光强的变化，可以求出通过干涉腔的颗粒大小。 |
| 其他摘要 | 本发明涉及一种基于激光相干原理的纳米颗粒计数检测方法及检测装置，基于该方法的传感器结构包括：半导体激光器，入射光纤，样品池，出射光纤、光电探测器和信号处理电路。位于样品池检测通道两侧的入射光纤端面和出射光纤端面相互平行，形成一个干涉腔。半导体激光器发出的相干光通过干涉腔时，会发生多光束干涉。当待测液体或气体介质中的微小颗粒通过干涉腔时，会改变干涉腔的有效光程，从而使得透射光的干涉光强发生变化。利用光电探测器求出透射光强的变化，可以求出通过干涉腔的颗粒大小。 |
| 申请日期 | 2015-03-05 |
| 专利号 | CN104677789A |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | CN201510096910.9 |
| 公开（公告）号 | CN104677789A |
| IPC 分类号 | G01N15/02 | G01N15/00 |
| 专利代理人 | 孙仿卫 | 李艳 |
| 代理机构 | 苏州创元专利商标事务所有限公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85540 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 江苏苏净集团有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙吉勇,梁凤飞,沈玮栋,等. 一种纳米颗粒计数检测装置及检测方法. CN104677789A[P]. 2015-06-03. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN104677789A.PDF（515KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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