Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 一种纳米颗粒计数检测装置 | |
| 其他题名 | 一种纳米颗粒计数检测装置 |
| 孙吉勇; 梁凤飞; 沈玮栋; 周大农; 苏玉芳 | |
| 2015-07-29 | |
| 专利权人 | 江苏苏净集团有限公司 |
| 公开日期 | 2015-07-29 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 摘要 | 本实用新型公开了一种基于激光相干原理的纳米颗粒计数检测装置，所述的检测装置包括：半导体激光器，入射光纤，样品池，出射光纤、光电探测器和信号处理电路。位于样品池检测通道两侧的入射光纤端面和出射光纤端面相互平行，形成一个干涉腔。半导体激光器发出的相干光通过干涉腔时，会发生多光束干涉。当待测液体或气体介质中的微小颗粒通过干涉腔时，会改变干涉腔的有效光程，从而使得透射光的干涉光强发生变化。利用光电探测器求出透射光强的变化，可以求出通过干涉腔的微粒大小。 |
| 其他摘要 | 本实用新型公开了一种基于激光相干原理的纳米颗粒计数检测装置，所述的检测装置包括：半导体激光器，入射光纤，样品池，出射光纤、光电探测器和信号处理电路。位于样品池检测通道两侧的入射光纤端面和出射光纤端面相互平行，形成一个干涉腔。半导体激光器发出的相干光通过干涉腔时，会发生多光束干涉。当待测液体或气体介质中的微小颗粒通过干涉腔时，会改变干涉腔的有效光程，从而使得透射光的干涉光强发生变化。利用光电探测器求出透射光强的变化，可以求出通过干涉腔的微粒大小。 |
| 申请日期 | 2015-03-05 |
| 专利号 | CN204514758U |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | CN201520126320.1 |
| 公开（公告）号 | CN204514758U |
| IPC 分类号 | G01N15/02 | G01N15/00 |
| 专利代理人 | 孙仿卫 | 李艳 |
| 代理机构 | 苏州创元专利商标事务所有限公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48467 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 江苏苏净集团有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙吉勇,梁凤飞,沈玮栋,等. 一种纳米颗粒计数检测装置. CN204514758U[P]. 2015-07-29. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN204514758U.PDF（454KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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