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光折变X射线半导体超快响应芯片空间性能的实验研究 期刊论文
光子学报, 2022, 卷号: 51, 期号: 2
作者:  谭小波;  闫欣;  易涛;  何凯;  邵铮铮;  周凯凯;  高贵龙;  汪韬;  张军;  庄钊文
Adobe PDF(1487Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：191/2  |  提交时间：2022/07/01
光折变效应  X射线成像  超快成像  空间分辨率  动态范围  
带过冷保护的深冷缓释便携冷源装置及其使用方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011461758.7, 申请日期: 2021-09-14, 公开日期: 2021-09-14
发明人:  何凯;  闫欣;  吴永程;  王刚;  张杰;  刘毅恒;  田进寿;  汪韬;  姚东
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用于ICF芯部自发光关键过程的全光固体超快成像系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011544173.1, 申请日期: 2020-12-23, 公开日期: 2021-04-13
发明人:  高贵龙;  何凯;  闫欣;  汪韬;  田进寿;  尹飞;  辛丽伟;  王刚;  刘毅恒;  姚东;  李知兵;  张杰;  吴永程;  刘冲;  薛彦华
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高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010280601.8, 申请日期: 2020-04-10, 公开日期: 2020-08-21
发明人:  高贵龙;  何凯;  闫欣;  汪韬;  尹飞;  田进寿;  辛丽伟;  贾祥志;  吴永程;  张杰;  刘冲;  李少辉;  刘毅恒
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