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辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011459774.2, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-04-02
发明人:  姚东;  高贵龙;  尹飞;  闫欣;  辛丽伟;  何凯;  汪韬;  田进寿
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Effects of secondary electron emission yield properties on gain and timing performance of ALD-coated MCP 期刊论文
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 2021, 卷号: 1005
作者:  Guo, Lehui;  Xin, Liwei;  Li, Lili;  Gou, Yongsheng;  Sai, Xiaofeng;  Li, Shaohui;  Liu, Hulin;  Xu, Xiangyan;  Liu, Baiyu;  Gao, Guilong;  He, Kai;  Zhang, Mingrui;  Qu, Youshan;  Xue, Yanhua;  Wang, Xing;  Chen, Ping;  Tian, Jinshou
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Microchannel plate (MCP)  Secondary electron emission (SEE) yield  Gain  Timing performance  
Summary of the R&D of 20-inch MCP-PMTs for neutrino detection 期刊论文
Journal of Instrumentation, 2021, 卷号: 16, 期号: 11
作者:  Wu, Q.;  Qian, S.;  Cao, Y.;  Huang, G.;  Jin, M.;  Jin, Z.;  Li, D.;  Liu, H.;  Li, K.;  Liu, S.;  Ma, L.;  Ren, L.;  Si, S.;  Sun, J.;  Tian, J.;  Wang, X.;  Zhan, H.;  Zhu, Y.
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