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光电经纬仪光学系统变形测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201821544393.2, 申请日期: 2019-05-31, 公开日期: 2019-05-31
发明人:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
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PST测试与极弱目标模拟系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201820960177.X, 申请日期: 2019-01-04, 公开日期: 2019-01-04
发明人:  薛勋;  赵建科;  刘尚阔;  李坤;  曹昆;  昌明;  李晶;  张洁;  胡丹丹;  赛建刚;  王争锋;  宋琦;  鄂可伟;  徐亮
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