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基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究 期刊论文
红外与激光工程, 2019, 卷号: 48, 期号: S1
作者:  聂志强;  王明培;  孙玉博;  李小宁;  吴迪
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一种半导体激光器寿命测试装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN102062675B, 申请日期: 2013-03-20, 公开日期: 2013-03-20
发明人:  刘兴胜;  代华斌;  张彦鑫;  李锋;  吴迪
Adobe PDF(544Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：52/0  |  提交时间：2019/12/26
一种激光器寿命测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202003003U, 申请日期: 2011-10-05, 公开日期: 2011-10-05
发明人:  刘兴胜;  代华斌;  张彦鑫;  李锋;  吴迪
Adobe PDF(122Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/12/24