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光折变X射线半导体超快响应芯片空间性能的实验研究 期刊论文
光子学报, 2022, 卷号: 51, 期号: 2
作者:  谭小波;  闫欣;  易涛;  何凯;  邵铮铮;  周凯凯;  高贵龙;  汪韬;  张军;  庄钊文
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光折变效应  X射线成像  超快成像  空间分辨率  动态范围  
倒像式像增强型超快成像探测器 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201910688741.6, 申请日期: 2019-07-29, 公开日期: 2019-11-22
发明人:  田进寿;  何凯;  高贵龙;  汪韬;  闫欣;  辛丽伟;  李少辉;  尹飞;  韦永林;  徐向晏;  卢裕;  王兴;  刘虎林;  陈萍;  温文龙;  王超;  王俊峰;  赛小锋
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