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| 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020651280.3, 申请日期: 2021-01-15, 发明人: 尹飞 ; 汪韬 ; 闫欣 ; 高贵龙; 何凯 ; 田进寿![](/image/person.jpg)
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| 一种X射线超快检测装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020417572.0, 申请日期: 2020-12-25, 发明人: 尹飞 ; 汪韬 ; 高贵龙; 何凯 ; 闫欣 ; 田进寿![](/image/person.jpg)
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| 用于ICF芯部自发光关键过程的全光固体超快成像系统及方法 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011544173.1, 申请日期: 2020-12-23, 公开日期: 2021-04-13 发明人: 高贵龙; 何凯 ; 闫欣 ; 汪韬 ; 田进寿 ; 尹飞 ; 辛丽伟; 王刚; 刘毅恒; 姚东; 李知兵; 张杰; 吴永程; 刘冲; 薛彦华
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| 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010339529.1, 申请日期: 2020-04-26, 公开日期: 2020-07-24 发明人: 尹飞 ; 汪韬 ; 闫欣 ; 高贵龙; 何凯 ; 田进寿![](/image/person.jpg)
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| 高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010280601.8, 申请日期: 2020-04-10, 公开日期: 2020-08-21 发明人: 高贵龙; 何凯 ; 闫欣 ; 汪韬 ; 尹飞 ; 田进寿 ; 辛丽伟; 贾祥志; 吴永程; 张杰; 刘冲; 李少辉; 刘毅恒
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| 一种X射线超快检测装置及方法 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010229863.1, 申请日期: 2020-03-27, 公开日期: 2020-06-30 发明人: 尹飞 ; 汪韬 ; 高贵龙; 何凯 ; 闫欣 ; 田进寿![](/image/person.jpg)
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| 低温生长铝镓砷光折变效应的研究 期刊论文 物理学报, 2019, 卷号: 68, 期号: 16 作者: 钟梓源; 何凯 ; 苑云; 汪韬 ; 高贵龙; 闫欣 ; 李少辉; 尹飞 ; 田进寿![](/image/person.jpg)
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| 一种超小型干涉式超快X射线光纤探测器 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN201910688752.4, 申请日期: 2019-07-29, 公开日期: 2019-11-22 发明人: 何凯 ; 高贵龙; 闫欣 ; 李少辉; 田进寿 ; 汪韬 ; 辛丽伟; 尹飞 ; 韦永林 ; 徐向晏 ; 王兴; 刘虎林 ; 陈萍; 温文龙; 王俊峰; 赛小锋; 卢裕![](/image/person.jpg)
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