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A truncated test scheme design method for success-failure in-orbit tests 期刊论文
Reliability Engineering and System Safety, 2024, 卷号: 243
作者:  Ding, Wenzhe;  Bai, Xiang;  Wang, Qingwei;  Long, Fang;  Li, Hailin;  Wu, Zhengrong;  Liu, Jian;  Yao, Huisheng;  Yang, Hong
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IOT verification test  Sequential test  Bayesian theory  Risk calculation  Optimization  
Complex Noise-Based Phase Retrieval Using Total Variation and Wavelet Transform Regularization 期刊论文
PHOTONICS, 2024, 卷号: 11, 期号: 1
作者:  Qin, Xing;  Gao, Xin;  Yang, Xiaoxu;  Xie, Meilin
Adobe PDF(4491Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2024/03/15
phase retrieval  incomplete magnitudes  wavelet decomposition  alternative directional multiplier method