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一种光学系统弥散斑和色偏差测试装置及方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910218694.5, 申请日期: 2011-05-11, 公开日期: 2011-05-11
发明人:  周艳;  赵建科;  陈永权;  张洁;  徐亮
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弱光探测仪及其标校系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910023125.5, 申请日期: 2011-01-05, 公开日期: 2011-01-05
发明人:  张周锋;  赵建科;  潘亮;  赛建刚;  袁香兰
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