Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 一种光学系统弥散斑和色偏差测试装置及方法 | |
| 周艳; 赵建科; 陈永权; 张洁; 徐亮 | |
| 2011-05-11 | |
| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2011-05-11 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 物理 |
| 申请日期 | 2009-10-30 |
| 专利号 | CN200910218694.5 |
| 资助项目 | 标准编制 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 受理 |
| 申请号 | CN200910218694.5 |
| 专利代理人 | 商宇科 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13522 |
| 专题 | 中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前) |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周艳,赵建科,陈永权,等. 一种光学系统弥散斑和色偏差测试装置及方法. CN200910218694.5[P]. 2011-05-11. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 200910218694.pdf（522KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
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