| 一种均匀光源的辐射特性测试装置 |
| 昌明; 周艳 ; 刘锴; 李晶; 薛勋; 宋琦; 曹昆; 万伟; 赵怀学
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| 2021-03-19
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| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 实用新型
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| 产权排序 | 1
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| 摘要 | 本实用新型公开了一种均匀光源的辐射特性测试装置，该设备兼备面均匀性测试功能以及角均匀性测试功能，具有结构简单，测量速度快、通用性强的优点，该测试装置包括支架、升降机构、轻质横杆，多个光电探测器组件以及信号处理及测量控制单元；升降机构与支架连接，轻质横杆安装在升降机构上，多个光电探测器组件并排安装在轻质横杆上，信号处理及测量控制单元安装在支架上。采用横向均布光电探测器纵向推扫的方法实现均匀光源的面均匀性的测试，采用角度均布光电探测器的方法实现了均匀光源的角均匀性测试。 |
| 专利号 | CN202021254161.0
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 授权
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| 公开（公告）号 | CN212748258U
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| IPC 分类号 | G01M11/02
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/96889
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| 专题 | 检测技术研究中心
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
昌明,周艳,刘锴,等. 一种均匀光源的辐射特性测试装置. CN202021254161.0[P]. 2021-03-19.
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