Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
低V型缺陷密度的GaN基多量子阱激光器外延片及制备方法 | |
其他题名 | 低V型缺陷密度的GaN基多量子阱激光器外延片及制备方法 |
杨静; 赵德刚; 朱建军; 陈平; 刘宗顺; 梁锋 | |
2019-06-11 | |
专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
公开日期 | 2019-06-11 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 低V型缺陷密度的GaN基多量子阱激光器外延片及制备方法,制备方法包括:对衬底(10)进行退火及表面清洁,并在衬底(10)上依次外延生长n型GaN层(11)、n型AlGaN限制层(12)、非故意掺杂下波导层(13)、InGaN/GaN多量子阱发光层(14)、p型AlGaN电子阻挡层(15)、非故意掺杂上波导层(16)、p型AlGaN限制层(17)和p型欧姆接触层(18),其中,InGaN/GaN多量子阱发光层(14)包括InGaN阱层和GaN垒层,生长GaN垒层时通入TMIn源,以抑制GaN垒层中V型缺陷的形成,消除InGaN/GaN多量子阱中常见的V型缺陷,从而降低器件反向漏电、减少器件吸收损耗并提高量子阱热稳定性。 |
其他摘要 | 低V型缺陷密度的GaN基多量子阱激光器外延片及制备方法,制备方法包括:对衬底(10)进行退火及表面清洁,并在衬底(10)上依次外延生长n型GaN层(11)、n型AlGaN限制层(12)、非故意掺杂下波导层(13)、InGaN/GaN多量子阱发光层(14)、p型AlGaN电子阻挡层(15)、非故意掺杂上波导层(16)、p型AlGaN限制层(17)和p型欧姆接触层(18),其中,InGaN/GaN多量子阱发光层(14)包括InGaN阱层和GaN垒层,生长GaN垒层时通入TMIn源,以抑制GaN垒层中V型缺陷的形成,消除InGaN/GaN多量子阱中常见的V型缺陷,从而降低器件反向漏电、减少器件吸收损耗并提高量子阱热稳定性。 |
申请日期 | 2019-02-14 |
专利号 | CN109873299A |
专利状态 | 申请中 |
申请号 | CN201910116788.5 |
公开(公告)号 | CN109873299A |
IPC 分类号 | H01S5/343 |
专利代理人 | 周天宇 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92410 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 中国科学院半导体研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨静,赵德刚,朱建军,等. 低V型缺陷密度的GaN基多量子阱激光器外延片及制备方法. CN109873299A[P]. 2019-06-11. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN109873299A.PDF(1074KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
个性服务 |
推荐该条目 |
保存到收藏夹 |
查看访问统计 |
导出为Endnote文件 |
谷歌学术 |
谷歌学术中相似的文章 |
[杨静]的文章 |
[赵德刚]的文章 |
[朱建军]的文章 |
百度学术 |
百度学术中相似的文章 |
[杨静]的文章 |
[赵德刚]的文章 |
[朱建军]的文章 |
必应学术 |
必应学术中相似的文章 |
[杨静]的文章 |
[赵德刚]的文章 |
[朱建军]的文章 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论