Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
扫描型上转磷光颗粒分布状态检测仪 | |
其他题名 | 扫描型上转磷光颗粒分布状态检测仪 |
赵永凯; 周蕾; 王静![]() | |
2006-05-03 | |
专利权人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
公开日期 | 2006-05-03 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 一种扫描型上转磷光颗粒分布状态检测仪,构成包括:光电转换与信号处理系统、数据采集与控制系统,磷光激发光路与磷光接收光路,所述的磷光激发光路包括一红外半导体激光器,沿该红外半导体激光器发出的激发光束前进方向上,依次设有球面调整镜、分色镜、聚焦/准直镜和扫描平台,一扫描平台供放置试纸条,该试纸条位于聚焦/准直镜的焦平面上;所述的磷光接收光路由共光轴的所述的聚焦/准直镜和分色镜及依次设置的滤光片、后聚焦镜、共焦狭缝光阑、光电转换器组成;所述的共焦狭缝光阑位于后聚焦镜的后焦面上。本发明具有检测灵敏度高、检测可靠性高、检测空间分辨率高、检测稳定性高和具有杀菌消毒的功能,以保障检测人员的安全。 |
其他摘要 | 一种扫描型上转磷光颗粒分布状态检测仪,构成包括:光电转换与信号处理系统、数据采集与控制系统,磷光激发光路与磷光接收光路,所述的磷光激发光路包括一红外半导体激光器,沿该红外半导体激光器发出的激发光束前进方向上,依次设有球面调整镜、分色镜、聚焦/准直镜和扫描平台,一扫描平台供放置试纸条,该试纸条位于聚焦/准直镜的焦平面上;所述的磷光接收光路由共光轴的所述的聚焦/准直镜和分色镜及依次设置的滤光片、后聚焦镜、共焦狭缝光阑、光电转换器组成;所述的共焦狭缝光阑位于后聚焦镜的后焦面上。本发明具有检测灵敏度高、检测可靠性高、检测空间分辨率高、检测稳定性高和具有杀菌消毒的功能,以保障检测人员的安全。 |
申请日期 | 2005-10-14 |
专利号 | CN1766580A |
专利状态 | 失效 |
申请号 | CN200510030550.9 |
公开(公告)号 | CN1766580A |
IPC 分类号 | G01N21/64 | G01N15/00 | G01N33/558 |
专利代理人 | 张泽纯 |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86174 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵永凯,周蕾,王静,等. 扫描型上转磷光颗粒分布状态检测仪. CN1766580A[P]. 2006-05-03. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN1766580A.PDF(697KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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