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用于大功率半导体激光器封装用的硅热沉及制备方法
其他题名用于大功率半导体激光器封装用的硅热沉及制备方法
刘媛媛; 杨富华
2013-06-19
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2013-06-19
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明提供一种用于大功率半导体激光器封装用的硅热沉及制备方法,其中用于大功率半导体激光器封装用的硅热沉,包括:一硅片;一第一二氧化硅层,其制作在硅片的正面;一第二二氧化硅层,其制作在硅片的背面;一第一金属化层,其制作在第一二氧化硅层上,该第一金属化层分为两段,其中间部位有一缝隙;一第二金属化层,其制作在第二二氧化硅层上。本发明具有热导率相差不大(硅热导率:148W/m/℃)而成本更加低廉,同时由于硅表面易于做到很高的光洁度,与半导体器件更加容易形成良好的接触,从而散热效果更好。
其他摘要本发明提供一种用于大功率半导体激光器封装用的硅热沉及制备方法,其中用于大功率半导体激光器封装用的硅热沉,包括:一硅片;一第一二氧化硅层,其制作在硅片的正面;一第二二氧化硅层,其制作在硅片的背面;一第一金属化层,其制作在第一二氧化硅层上,该第一金属化层分为两段,其中间部位有一缝隙;一第二金属化层,其制作在第二二氧化硅层上。本发明具有热导率相差不大(硅热导率:148W/m/℃)而成本更加低廉,同时由于硅表面易于做到很高的光洁度,与半导体器件更加容易形成良好的接触,从而散热效果更好。
主权项一种用于大功率半导体激光器封装用的硅热沉,包括:  一硅片;  一第一二氧化硅层,其制作在硅片的正面;  一第二二氧化硅层,其制作在硅片的背面;  一第一金属化层,其制作在第一二氧化硅层上,该第一金属化层分为两段,其中间部位有一缝隙;  一第二金属化层,其制作在第二二氧化硅层上。
申请日期2013-03-22
专利号CN103166105A
专利状态失效
申请号CN201310093472.1
公开(公告)号CN103166105A
IPC 分类号H01S5/024
专利代理人汤保平
代理机构中科专利商标代理有限责任公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66714
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院半导体研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
刘媛媛,杨富华. 用于大功率半导体激光器封装用的硅热沉及制备方法. CN103166105A[P]. 2013-06-19.
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