OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
半导体激光器的制造方法
其他题名半导体激光器的制造方法
后藤修; 山田光志; 八重樫浩树; 堀川英明
2004-01-28
专利权人OKI半导体株式会社
公开日期2004-01-28
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要一种用高精度形成用于分割半导体器件10的标记的制造半导体器件的方法,其中,多个半导体器件10制备在一个半导体衬底16上,而作为标记的刻蚀槽31形成在半导体衬底16上的半导体器件区域的外部。
其他摘要一种用高精度形成用于分割半导体器件10的标记的制造半导体器件的方法,其中,多个半导体器件10制备在一个半导体衬底16上,而作为标记的刻蚀槽31形成在半导体衬底16上的半导体器件区域的外部。
申请日期1998-01-25
专利号CN1136636C
专利状态失效
申请号CN98104316.X
公开(公告)号CN1136636C
IPC 分类号H01L21/308 | H01L21/78 | H01S5/00 | H01S5/02 | H01S5/16 | H01S3/18 | H01S5/30
专利代理人王以平
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/50306
专题半导体激光器专利数据库
作者单位OKI半导体株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
后藤修,山田光志,八重樫浩树,等. 半导体激光器的制造方法. CN1136636C[P]. 2004-01-28.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN1136636C.PDF(825KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[后藤修]的文章
[山田光志]的文章
[八重樫浩树]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[后藤修]的文章
[山田光志]的文章
[八重樫浩树]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[后藤修]的文章
[山田光志]的文章
[八重樫浩树]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。