OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
一种非极性GaN薄膜的生长方法
其他题名一种非极性GaN薄膜的生长方法
周健华; 郝茂盛; 颜建锋; 潘尧波; 周圣明
2011-09-14
专利权人上海蓝光科技有限公司
公开日期2011-09-14
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要一种非极性GaN薄膜的生长方法,在金属有机物化学气相淀积(MOCVD)系统中,在铝酸锂(LiAlO2)衬底上,在N2保护下,升温到800-900℃,生长低温保护层,低温保护层反应室压力为150-500torr,三甲基镓(TMGa)流量为1-50sccm,对应于摩尔流量:4E-6mole/min-3E-4mole/min,然后降低压力至100-300torr,升温到1000-1100℃继续生长非掺杂氮化镓(U-GaN)层,TMGa流量为10-200sccm,对应于摩尔流量:4E-5mol/min-1E-3mole/min,然后再升温到1150-1200℃,生长高温U-GaN约100nm,然后再降温到1000-1100℃生长U-GaN。通过生长低温保护层,保护铝酸锂衬底不被高温破坏,短暂的高温U-GaN的目的是改善生长的GaN薄膜的表面平整度。
其他摘要一种非极性GaN薄膜的生长方法,在金属有机物化学气相淀积(MOCVD)系统中,在铝酸锂(LiAlO2)衬底上,在N2保护下,升温到800-900℃,生长低温保护层,低温保护层反应室压力为150-500torr,三甲基镓(TMGa)流量为1-50sccm,对应于摩尔流量:4E-6mole/min-3E-4mole/min,然后降低压力至100-300torr,升温到1000-1100℃继续生长非掺杂氮化镓(U-GaN)层,TMGa流量为10-200sccm,对应于摩尔流量:4E-5mol/min-1E-3mole/min,然后再升温到1150-1200℃,生长高温U-GaN约100nm,然后再降温到1000-1100℃生长U-GaN。通过生长低温保护层,保护铝酸锂衬底不被高温破坏,短暂的高温U-GaN的目的是改善生长的GaN薄膜的表面平整度。
申请日期2008-09-25
专利号CN101364631B
专利状态授权
申请号CN200810200458.6
公开(公告)号CN101364631B
IPC 分类号H01L33/00 | H01S5/30 | H01L33/02
专利代理人余明伟
代理机构上海光华专利事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/47938
专题半导体激光器专利数据库
作者单位上海蓝光科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
周健华,郝茂盛,颜建锋,等. 一种非极性GaN薄膜的生长方法. CN101364631B[P]. 2011-09-14.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN101364631B.PDF(185KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[周健华]的文章
[郝茂盛]的文章
[颜建锋]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[周健华]的文章
[郝茂盛]的文章
[颜建锋]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[周健华]的文章
[郝茂盛]的文章
[颜建锋]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。