Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置 | |
其他题名 | 基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置 |
丁晨良; 魏劲松; 周奇军 | |
2017-11-14 | |
专利权人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
公开日期 | 2017-11-14 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | 一种基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置,包括第一激光器、第二激光器、第一1/2波片、第二1/2波片、第一扩束镜、第二扩束镜、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、聚焦透镜、三棱镜,第一探测器和第二探测器,本发明将两束不同波长的光耦合到同一束光中,通过聚焦透镜产生轴向色差,聚焦于轴向不同位置,即光刻材料不同厚度处,实现轴向双焦点同时光刻。本发明可实现双光束同时存储,将存储的速度增加一倍,也将存储信息提高一倍,为多层光存储技术的推广运用提供基础。本发明还具有实时读取刻写信号系统,确保刻写的准确度。 |
其他摘要 | 一种基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置,包括第一激光器、第二激光器、第一1/2波片、第二1/2波片、第一扩束镜、第二扩束镜、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、聚焦透镜、三棱镜,第一探测器和第二探测器,本发明将两束不同波长的光耦合到同一束光中,通过聚焦透镜产生轴向色差,聚焦于轴向不同位置,即光刻材料不同厚度处,实现轴向双焦点同时光刻。本发明可实现双光束同时存储,将存储的速度增加一倍,也将存储信息提高一倍,为多层光存储技术的推广运用提供基础。本发明还具有实时读取刻写信号系统,确保刻写的准确度。 |
授权日期 | 2017-11-14 |
申请日期 | 2015-09-29 |
专利号 | CN105355217B |
专利状态 | 授权 |
申请号 | CN201510638597.7 |
公开(公告)号 | CN105355217B |
IPC 分类号 | G11B7/004 | G02B27/09 | G02B27/10 |
专利代理人 | 张泽纯 | 张宁展 |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39613 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 丁晨良,魏劲松,周奇军. 基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置. CN105355217B[P]. 2017-11-14. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN105355217B.PDF(101KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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