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基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置
其他题名基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置
丁晨良; 魏劲松; 周奇军
2017-11-14
专利权人中国科学院上海光学精密机械研究所
公开日期2017-11-14
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要一种基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置,包括第一激光器、第二激光器、第一1/2波片、第二1/2波片、第一扩束镜、第二扩束镜、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、聚焦透镜、三棱镜,第一探测器和第二探测器,本发明将两束不同波长的光耦合到同一束光中,通过聚焦透镜产生轴向色差,聚焦于轴向不同位置,即光刻材料不同厚度处,实现轴向双焦点同时光刻。本发明可实现双光束同时存储,将存储的速度增加一倍,也将存储信息提高一倍,为多层光存储技术的推广运用提供基础。本发明还具有实时读取刻写信号系统,确保刻写的准确度。
其他摘要一种基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置,包括第一激光器、第二激光器、第一1/2波片、第二1/2波片、第一扩束镜、第二扩束镜、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、聚焦透镜、三棱镜,第一探测器和第二探测器,本发明将两束不同波长的光耦合到同一束光中,通过聚焦透镜产生轴向色差,聚焦于轴向不同位置,即光刻材料不同厚度处,实现轴向双焦点同时光刻。本发明可实现双光束同时存储,将存储的速度增加一倍,也将存储信息提高一倍,为多层光存储技术的推广运用提供基础。本发明还具有实时读取刻写信号系统,确保刻写的准确度。
授权日期2017-11-14
申请日期2015-09-29
专利号CN105355217B
专利状态授权
申请号CN201510638597.7
公开(公告)号CN105355217B
IPC 分类号G11B7/004 | G02B27/09 | G02B27/10
专利代理人张泽纯 | 张宁展
代理机构上海新天专利代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39613
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
丁晨良,魏劲松,周奇军. 基于聚焦透镜轴向色差的双光束并行刻写装置. CN105355217B[P]. 2017-11-14.
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