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一种均匀光源角均匀性测试装置及方法
其他题名一种均匀光源角均匀性测试装置及方法
昌明; 赵建科; 薛勋; 周艳; 李晶; 曹昆; 胡丹丹; 宋琦
2018-11-09
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-11-09
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明属于光学测试领域,涉及一种均匀光源角均匀性测试装置及方法,解决了现有技术存在的一套弧形导轨只能适配一种直径出射面,造成投入过高、资源浪费的问题。本发明的技术解决方案是:一种均匀光源角均匀性测试装置,包括X‑Y二维扫描架、旋转平台、光亮度探测器和控制计算机;X‑Y二维扫描架包括横板和竖板,竖板垂直设置在横板上,且竖板可沿横板轴向往复运动;旋转平台设置在竖板上,旋转平台可沿竖板轴向往复运动,还可在竖板上转动,光亮度探测器设置在旋转平台上;控制计算机控制竖板沿横板轴向、旋转平台沿竖板轴向运动的位移量及旋转平台的转动角度。本发明同时还提供了一种均匀光源角均匀性测试装置的测试方法。
主权项一种均匀光源角均匀性测试装置,其特征在于: 包括X-Y二维扫描架(1)、旋转平台(2)、光亮度探测器(3)和控制计算机(4);所述X-Y二维扫描架(1)包括横板(101)和竖板(102),竖板(102)垂直设置在横板(101)上,且竖板(102)可沿横板(101)的轴向往复运动; 旋转平台(2)设置在竖板(102)上,旋转平台(2)可沿竖板(102)的轴向往复运动,还可在竖板(102)上转动,光亮度探测器(3)设置在旋转平台(2)上; 控制计算机(4)控制竖板(102)沿横板(101)轴向、旋转平台(2)沿竖板(102)轴向运动的位移量及旋转平台(2)的转动角度。
授权日期2018-11-09
申请日期2018-05-28
专利号CN201810521754.X
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201810521754.X
PCT属性
公开(公告)号CN108776002A
IPC 分类号G01M11/02
专利代理人陈广民
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30945
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
昌明,赵建科,薛勋,等. 一种均匀光源角均匀性测试装置及方法. CN201810521754.X[P]. 2018-11-09.
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