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光轴平行性标定系统及标定方法
田留德; 赵建科; 周艳; 潘亮; 龙江波; 曹昆
2012-09-25
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2013-01-16
专利类型发明
摘要本发明涉及一种光轴平行性标定系统及标定方法,光轴平行性标定系统包括自准直经纬仪、数据处理计算机以及用于对自准直经纬仪进行自准的平面反射镜;待测光学系统设置在自准直经纬仪的出射光路上并与数据处理计算机电性相连。本发明提供了一种测试精度高、实时性好以及应用领域广的光轴平行性标定系统及标定方法。
申请日期2012-09-25
专利号CN102878952
申请号CN201210358761
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21381
专题检测技术研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
田留德,赵建科,周艳,等. 光轴平行性标定系统及标定方法. CN102878952[P]. 2012-09-25.
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光轴平行性标定系统及标定方法.pdf(261KB) 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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