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一种半导体激光器芯片残余应力分布测试方法及装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN104236769A, 申请日期: 2014-12-24, 公开日期: 2014-12-24
发明人:  刘兴胜;  王警卫;  吴迪
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一种适应低温环境的半导体激光器系统及其测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN203747239U, 申请日期: 2014-07-30, 公开日期: 2014-07-30
发明人:  刘兴胜;  祝丽莉;  吴迪
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一种半导体激光器光强分布测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN203629679U, 申请日期: 2014-06-04, 公开日期: 2014-06-04
发明人:  刘兴胜;  王贞福;  吴迪
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一种适应低温环境的半导体激光器系统及其波长调节方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN103715603A, 申请日期: 2014-04-09, 公开日期: 2014-04-09
发明人:  刘兴胜;  祝丽莉;  吴迪
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一种半导体激光器光强分布测试方法及其装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN103528676A, 申请日期: 2014-01-22, 公开日期: 2014-01-22
发明人:  刘兴胜;  王贞福;  吴迪
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