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半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN208580179U, 申请日期: 2019-03-05, 公开日期: 2019-03-05
发明人:  邱德明;  张振峰;  杨国良
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一种晶圆对晶圆的半导体激光器芯片老化测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN208580182U, 申请日期: 2019-03-05, 公开日期: 2019-03-05
发明人:  邱德明;  张振峰;  杨国良
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半导体激光器芯片端面外观的检测系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN208580048U, 申请日期: 2019-03-05, 公开日期: 2019-03-05
发明人:  邱德明;  张振峰;  杨国良
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分布反馈半导体激光器芯片测试过程中降低温升影响方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN109375088A, 申请日期: 2019-02-22, 公开日期: 2019-02-22
发明人:  邱德明;  张振峰;  杨国良
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半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试方法及装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN108983064A, 申请日期: 2018-12-11, 公开日期: 2018-12-11
发明人:  邱德明;  张振峰;  杨国良
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一种晶圆对晶圆的半导体激光器芯片老化测试装置及方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN108931719A, 申请日期: 2018-12-04, 公开日期: 2018-12-04
发明人:  邱德明;  张振峰;  杨国良
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一种用于准确测试裸芯片电阻值的探针及其制造方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN108828280A, 申请日期: 2018-11-16, 公开日期: 2018-11-16
发明人:  邱德明;  张振峰;  杨国良
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半导体激光器芯片端面外观的检测系统及方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN109100366A, 公开日期: 2018-12-28
发明人:  邱德明;  张振峰;  杨国良
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