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Analysis of influence factors of surface defects detection on optical components 会议论文
AOPC 2020: OPTICAL SENSING AND IMAGING TECHNOLOGY, Xiamen, PEOPLES R CHINA, 2020-08-25
作者:  Deng Mingjie;  Shi Feng;  Sun Guoyan;  Xue Shuai;  Tie Guipeng
Adobe PDF(756Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：103/0  |  提交时间：2021/06/04
Surface defect  Dark field  Microscopic scattering imaging