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Blind deep-learning based preprocessing method for Fourier ptychographic microscopy 期刊论文
Optics and Laser Technology, 2024, 卷号: 169
作者:  Wu, Kai;  Pan, An;  Sun, Zhonghan;  Shi, Yinxia;  Gao, Wei
Adobe PDF(10182Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：63/0  |  提交时间：2023/10/26
Fourier ptychographic microscopy  Noise modeling  Blind denoising  Deep learning