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Modulated photothermal reflectance technique for measuring thermal conductivity of nano film on substrate and thermal boundary resistance 期刊论文
THIN SOLID FILMS, 2008, 卷号: 516, 期号: 23, 页码: 8359-8362
作者:  Bu, W. F.;  Tang, D. W.;  Wang, Z. L.;  Zheng, X. H.;  Cheng, G. H.
Adobe PDF(330Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：287/1  |  提交时间：2011/09/30
Photothermal Reflectance Technique  Interface Thermal Resistance  Simulation Annealing Algorithm  Thermal Conductivity  Nano Film  Silicon Dioxide  Thin Films  Thermal Boundary Resistance