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利用双暗态系统测量微波电场的方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106932657A, 申请日期: 2017-07-07, 公开日期: 2017-07-07
发明人:  彭延东;  张仲健;  汪金陵;  李晨;  任廷琦
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