利用双暗态系统测量微波电场的方法

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	利用双暗态系统测量微波电场的方法
其他题名	利用双暗态系统测量微波电场的方法
	彭延东; 张仲健; 汪金陵; 李晨; 任廷琦
	2017-07-07
专利权人	山东科技大学
公开日期	2017-07-07
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种利用双暗态系统测量微波电场的方法，由外腔半导体激光器提供激光通过二向色镜分成探测光和耦合光，经过半波片和偏振分束器同向进入铷原子汽室；两个半波片分别调节探测光场和耦合光场的入射光强，使得控制场>>探测场；将探测光锁定在铷里德堡原子5S1/2(F＝1)→5P3/2跃迁线上，将控制光锁定在铷里德堡态原子5S1/2(F＝2)→5P3/2跃迁线上；倍频激光器提供耦合光，调节耦合光在能级5P3/2→53D5/2共振频率耦合；由微波模拟信号发生器提供功率可调的微波信号，耦合里德堡原子态矢53D5/2→54P3/2之间的跃迁，导致里德堡原子的EIT的透射峰发生分裂；用光电探测器检测探测光的吸收特性，由透射峰线宽间距表征微波信号的电场强度。该方法能极大地压窄透射峰线宽提高探测精度和灵敏度。
其他摘要	本发明公开了一种利用双暗态系统测量微波电场的方法，由外腔半导体激光器提供激光通过二向色镜分成探测光和耦合光，经过半波片和偏振分束器同向进入铷原子汽室；两个半波片分别调节探测光场和耦合光场的入射光强，使得控制场>>探测场；将探测光锁定在铷里德堡原子5S1/2(F＝1)→5P3/2跃迁线上，将控制光锁定在铷里德堡态原子5S1/2(F＝2)→5P3/2跃迁线上；倍频激光器提供耦合光，调节耦合光在能级5P3/2→53D5/2共振频率耦合；由微波模拟信号发生器提供功率可调的微波信号，耦合里德堡原子态矢53D5/2→54P3/2之间的跃迁，导致里德堡原子的EIT的透射峰发生分裂；用光电探测器检测探测光的吸收特性，由透射峰线宽间距表征微波信号的电场强度。该方法能极大地压窄透射峰线宽提高探测精度和灵敏度。
主权项	一种利用双暗态系统测量微波电场的方法，其特征是，包括以下步骤： 1)由外腔半导体激光器提供780nm的激光先通过二向色镜分成两束光一束作为探测光，另一束作为耦合光，它们分别经过半波片和偏振分束器同向进入铷原子汽室； 2)两个半波片分别调节探测光场和耦合光场的入射光强，使得耦合场>>探测场； 3)将探测光锁定在铷里德堡原子5S1/2(F＝1)→5P3/2跃迁线上，将控制光锁定在铷里德堡态原子5S1/2(F＝2)→5P3/2跃迁线上； 4)倍频激光器提供波长为480nm耦合光，调节480nm耦合光在能级5P3/2→53D5/2共振频率耦合； 5)由微波模拟信号发生器提供频率范围10kHz-10GHz且功率可调的微波信号，耦合里德堡原子53D5/2→54P3/2之间的跃迁，导致里德堡原子的电磁诱导透明系统的透射峰发生分裂； 6)最后用光电探测器检测探测光的吸收特性，由透射峰线宽间距表征微波信号的电场强度。
申请日期	2017-05-08
专利号	CN106932657A
专利状态	申请中
申请号	CN201710315832.6
公开（公告）号	CN106932657A
IPC 分类号	G01R29/12
专利代理人	王吉勇 \| 崔苗苗
代理机构	济南领升专利代理事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67031
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	山东科技大学
推荐引用方式 GB/T 7714	彭延东,张仲健,汪金陵,等. 利用双暗态系统测量微波电场的方法. CN106932657A[P]. 2017-07-07.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN106932657A.PDF（116KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文