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基于Talbot效应和moire条纹的CCD精细拼接理论研究 期刊论文
测试技术学报, 2004, 卷号: 18, 期号: 13, 页码: 45-48
作者:  王虎;  苗兴华
Adobe PDF(321Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:290/3  |  提交时间:2010/01/12