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一种半导体激光器特性测试系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN102109571B, 申请日期: 2013-01-02, 公开日期: 2013-01-02
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫;  杨凯;  李锋
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一种激光器特性测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201993440U, 申请日期: 2011-09-28, 公开日期: 2011-09-28
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫;  杨凯;  李锋
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一种激光器特性测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201993440U, 申请日期: 2011-09-28, 公开日期: 2011-09-28
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫;  杨凯;  李锋
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