中文版 | English

在结果中检索

OPT OpenIR
（本次检索基于用户作品认领结果）

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

限定条件            
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
一种半导体激光器寿命测试装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN102062675B, 申请日期: 2013-03-20, 公开日期: 2013-03-20
发明人:  刘兴胜;  代华斌;  张彦鑫;  李锋;  吴迪
Adobe PDF(544Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2019/12/26
一种半导体激光器特性测试系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN102109571B, 申请日期: 2013-01-02, 公开日期: 2013-01-02
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫;  杨凯;  李锋
Adobe PDF(859Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/26