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大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011537846.0, 申请日期: 2021-11-16, 公开日期: 2021-03-30
发明人:  段亚轩;  达争尚;  陈晓义;  袁索超;  范尧;  李铭;  王璞
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一种高功率激光增透膜透过率测量方法及其测量装置 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010574555.2, 申请日期: 2021-06-22, 公开日期: 2020-09-11
发明人:  李铭;  达争尚;  段亚轩;  陈永权;  李红光;  袁索超;  王璞
Adobe PDF(348Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：118/0  |  提交时间：2021/11/23