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In-plane micro-displacement measurement based on secondary diffraction 期刊论文
AIP ADVANCES, 2020, 卷号: 10, 期号: 4
作者:  Liu, Shengrun;  Xue, Bin;  Yu, Jirui;  Xu, Guangzhou;  Lv, Juan;  Cheng, Ying;  Yang, Jianfeng
Adobe PDF(5454Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：174/4  |  提交时间：2020/04/27