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Experimental and theoretical analysis of the effect of packaging induced thermal stress on high-power laser diode arrays 会议论文
High-Power Diode Laser Technology XVII, San Francisco, CA, United states, 2019-02-03
作者:  Zhang, Hongyou;  Zah, Chung-En;  Liu, Xingsheng
Adobe PDF(736Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：135/2  |  提交时间：2019/07/08
Thermal stress  laser diode array  SMILE effect  spectrum