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一种X射线超快检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020417572.0, 申请日期: 2020-12-25,
发明人:  尹飞;  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿
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用于流场诊断的快速荧光寿命成像系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201922276897.1, 申请日期: 2020-10-30,
发明人:  李亚晖;  高贵龙;  何凯;  田进寿
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全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201921026323.2, 申请日期: 2020-04-03, 公开日期: 2020-04-03
发明人:  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿;  李少辉;  尹飞;  辛丽伟
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一种X射线超快检测装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010229863.1, 申请日期: 2020-03-27, 公开日期: 2020-06-30
发明人:  尹飞;  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿
Adobe PDF(418Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：77/11  |  提交时间：2021/11/05