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全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器
汪韬; 高贵龙; 何凯; 闫欣; 田进寿; 李少辉; 尹飞; 辛丽伟
2020-04-03
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2020-04-03
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型提供了一种全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器,解决现有超快诊断设备无法同时具备高时间分辨率、高空间分辨率性能,以及现有电子光学电真空超快诊断设备诊断效果差的问题。其中芯片包括沿入射信号光传输方向依次设置的调制光栅、光学膜系、半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构、第一增透膜、基片及第二增透膜,信号光入射调制光栅,探针光入射第二增透膜;所述光学膜系对信号光进行增透、对探针光进行增反;所述半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构用于探测信号光,并经调制光栅调制,在半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构内部形成与信号光相对应的空间分布图样;所述第一增透膜和第二增透膜对探针光进行增透。
授权日期2020-04-03
申请日期2019-07-03
专利号CN201921026323.2
语种中文
专利状态授权
申请号CN201921026323.2
公开(公告)号CN210243002U
IPC 分类号G01J11/00
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/94096
专题条纹相机工程中心
推荐引用方式
GB/T 7714
汪韬,高贵龙,何凯,等. 全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器. CN201921026323.2[P]. 2020-04-03.
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全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器(407KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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