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一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020651280.3, 申请日期: 2021-01-15,
发明人:  尹飞;  汪韬;  闫欣;  高贵龙;  何凯;  田进寿
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一种X射线超快检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020417572.0, 申请日期: 2020-12-25,
发明人:  尹飞;  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿
Adobe PDF(366Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2023/11/30
全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201921026323.2, 申请日期: 2020-04-03, 公开日期: 2020-04-03
发明人:  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿;  李少辉;  尹飞;  辛丽伟
Adobe PDF(407Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：145/8  |  提交时间：2020/12/25
一种X射线超快检测装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010229863.1, 申请日期: 2020-03-27, 公开日期: 2020-06-30
发明人:  尹飞;  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿
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倒像式像增强型超快成像探测器 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201910688741.6, 申请日期: 2019-07-29, 公开日期: 2019-11-22
发明人:  田进寿;  何凯;  高贵龙;  汪韬;  闫欣;  辛丽伟;  李少辉;  尹飞;  韦永林;  徐向晏;  卢裕;  王兴;  刘虎林;  陈萍;  温文龙;  王超;  王俊峰;  赛小锋
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全光固体超快探测芯片、全光固体超快探测器及其探测方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201910594755.1, 申请日期: 2019-07-03, 公开日期: 2019-11-01
发明人:  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿;  李少辉;  尹飞;  辛丽伟
Adobe PDF(409Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：176/9  |  提交时间：2019/12/23