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一种高集成超高分辨率中红外双光梳光谱测量装置与方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011078202.X, 申请日期: 2021-11-16, 公开日期: 2021-03-12
发明人:  王擂然;  孙启兵;  石磊;  张文富
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