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可动态测量平面光学元件面形的测量装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011537852.6, 申请日期: 2020-12-23, 公开日期: 2021-03-16
发明人:  段亚轩;  达争尚;  郑小霞;  董晓娜;  王拯洲;  张伟刚;  孙策;  蔺辉;  陈晓义;  范尧
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宽基线光学交会测量的像点快速高效匹配方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011409685.7, 申请日期: 2020-12-03, 公开日期: 2021-04-13
发明人:  程志远;  李希宇;  张轩;  李治国;  井峰
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