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清洁刮刀片安装检测系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN101625233B, 申请日期: 2010-12-29, 公开日期: 2010-12-29
发明人:  赵廷生
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墨滴检测系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN101148119B, 申请日期: 2010-08-25, 公开日期: 2010-08-25
发明人:  翁仁修
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标准星光模拟器及含有该模拟器的杂散光PST光学检测系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200810188560.9, 申请日期: 2010-06-23, 公开日期: 2010-06-23
发明人:  马臻;  李英才;  汶德胜;  车驰骋;  李旭阳;  樊学武;  陈荣利;  冯广军
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分布式光纤车辆综合信息检测系统及其处理方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910184470.7, 申请日期: 2010-05-12, 公开日期: 2010-05-12
发明人:  刘志麟;  阮驰
Adobe PDF(430Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:275/2  |  提交时间:2011/10/09
一种硒鼓部件的质量检测系统及方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101661235A, 申请日期: 2010-03-03, 公开日期: 2010-03-03
发明人:  吴福燕
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刮刀片表面检测系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101650307A, 申请日期: 2010-02-17, 公开日期: 2010-02-17
发明人:  赵廷生;  宫宁宁
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Light source error detection apparatus and method 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: US7642495, 申请日期: 2010-01-05, 公开日期: 2010-01-05
发明人:  ISHIKAWA, TOMOHISA
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基于多分辨率融合的X射线图像动态范围扩展技术 期刊论文
无损检测, 2010, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 918-920,925
作者:  Li Hanzhi(李汉志);  Zhao Baosheng(赵宝升);  Li Wei(李伟)
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基于Talbot-Moiré法测量透镜焦距的CCD亚像素标定技术 期刊论文
光子学报, 2010, 卷号: 39, 期号: 10, 页码: 1896-1900
作者:  Wu Lingling(吴玲玲);  Wu Guo(吴国俊);  Cang Yuping(仓玉萍);  Chen Liangyi(陈良益)
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亚像元边缘检测系统的FPGA实现 期刊论文
光子学报, 2010, 卷号: 39, 期号: 1, 页码: 173-177
作者:  胡晓东;  马娜
Adobe PDF(276Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:439/3  |  提交时间:2011/01/04