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中国科学院西安光学精密机械研究所机构知识库
Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
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作者
李旭阳 [1]
马臻 [1]
文献类型
专利 [7]
期刊论文 [6]
发表日期
2010 [13]
语种
中文 [8]
出处
光子学报 [3]
光学技术 [1]
应用光学 [1]
无损检测 [1]
资助项目
碳化硅反射镜工程适用... [1]
收录类别
EI [1]
其他 [1]
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清洁刮刀片安装检测系统
专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN101625233B, 申请日期: 2010-12-29, 公开日期: 2010-12-29
发明人:
赵廷生
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/24
墨滴检测系统
专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN101148119B, 申请日期: 2010-08-25, 公开日期: 2010-08-25
发明人:
翁仁修
Adobe PDF(339Kb)
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2019/12/26
标准星光模拟器及含有该模拟器的杂散光PST光学检测系统
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200810188560.9, 申请日期: 2010-06-23, 公开日期: 2010-06-23
发明人:
马臻
;
李英才
;
汶德胜
;
车驰骋
;
李旭阳
;
樊学武
;
陈荣利
;
冯广军
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浏览/下载:376/4
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提交时间:2011/10/09
分布式光纤车辆综合信息检测系统及其处理方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910184470.7, 申请日期: 2010-05-12, 公开日期: 2010-05-12
发明人:
刘志麟
;
阮驰
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浏览/下载:275/2
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提交时间:2011/10/09
一种硒鼓部件的质量检测系统及方法
专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101661235A, 申请日期: 2010-03-03, 公开日期: 2010-03-03
发明人:
吴福燕
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提交时间:2020/01/18
刮刀片表面检测系统
专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101650307A, 申请日期: 2010-02-17, 公开日期: 2010-02-17
发明人:
赵廷生
;
宫宁宁
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提交时间:2020/01/18
Light source error detection apparatus and method
专利
专利类型: 授权发明, 专利号: US7642495, 申请日期: 2010-01-05, 公开日期: 2010-01-05
发明人:
ISHIKAWA, TOMOHISA
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提交时间:2019/12/23
基于多分辨率融合的X射线图像动态范围扩展技术
期刊论文
无损检测, 2010, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 918-920,925
作者:
Li Hanzhi(李汉志)
;
Zhao Baosheng(赵宝升)
;
Li Wei(李伟)
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提交时间:2011/07/12
基于Talbot-Moiré法测量透镜焦距的CCD亚像素标定技术
期刊论文
光子学报, 2010, 卷号: 39, 期号: 10, 页码: 1896-1900
作者:
Wu Lingling(吴玲玲)
;
Wu Guo(吴国俊)
;
Cang Yuping(仓玉萍)
;
Chen Liangyi(陈良益)
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提交时间:2011/07/12
亚像元边缘检测系统的FPGA实现
期刊论文
光子学报, 2010, 卷号: 39, 期号: 1, 页码: 173-177
作者:
胡晓东
;
马娜
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提交时间:2011/01/04