OPT OpenIR

浏览/检索结果: 共5条,第1-5条 帮助

限定条件    
已选(0)清除 条数/页:   排序方式:
取样劈板的取样率及取样均匀性干涉测量系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201810253356.4, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-09-18
发明人:  达争尚;  高立民;  陈永权;  李红光
Adobe PDF(884Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:139/0  |  提交时间:2018/12/29
反射镜阵列及激光阵列输出光轴平行性建立系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201810253350.7, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-09-28
发明人:  达争尚;  高立民;  李红光;  董晓娜
Adobe PDF(591Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:138/0  |  提交时间:2018/12/29
数字微镜器件的远场焦斑测量方法 期刊论文
红外与激光工程, 2018, 卷号: 47, 期号: 12
作者:  李铭;  袁索超;  李红光;  达争尚
Adobe PDF(1027Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:192/0  |  提交时间:2019/03/25
远场焦斑测量  数字微镜器件  大动态  投影变换  
对低慢小目标的光学预警与激光干扰系统及方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN108535716A, 申请日期: 2018-09-14, 公开日期: 2018-09-14
发明人:  于洪君;  邵帅;  郭立红
Adobe PDF(432Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:152/0  |  提交时间:2019/12/30
一种新型半导体激光扫描机构 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN206960791U, 申请日期: 2018-02-02, 公开日期: 2018-02-02
发明人:  林坚;  黎洪
Adobe PDF(312Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:52/0  |  提交时间:2019/12/24