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Investigation of optical and material properties of Si/SiGe/Si heterostructures by using spectroscopic ellipsometry and a variety of characterizations 会议论文
, Xi’an, China, 2014-09
作者:  Deng Xie;  Zhi Ren Qiu;  Ting Mei;  Chee Wee Liu;  Zhe Chuan Feng
Adobe PDF(51Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：151/1  |  提交时间：2015/05/22