OPT OpenIR

浏览/检索结果: 共5条,第1-5条 帮助

已选(0)清除 条数/页:   排序方式:
Vcsel based optical links in burst mode 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: US20180287707A1, 申请日期: 2018-10-04, 公开日期: 2018-10-04
发明人:  CEVRERO, ALESSANDRO;  KUCHTA, DANIEL M.;  MENOLFI, CHRISTIAN I.;  MORF, THOMAS E.;  OZKAYA, ILTER;  SEIFRIED, MARC A.
收藏  |  浏览/下载:65/0  |  提交时间:2019/12/30
Guides lithographically fabricated on semiconductor devices 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: US6798953, 申请日期: 2004-09-28, 公开日期: 2004-09-28
发明人:  COHEN, MITCHELL S.;  CORDES, MICHAEL J.;  CORDES, STEVEN A.;  HOGAN, WILLIAM K.;  JOHNSON, GLEN W.;  KUCHTA, DANIEL M.;  LACEY, DIANNE L.;  SPEIDELL, JAMES L.;  TREWHELLA, JEANNINE M.;  ZINTER, JOSEPH P.
Adobe PDF(150Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:66/0  |  提交时间:2019/12/26
Guides lithographically fabricated on semiconductor devices 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: US6798953, 申请日期: 2004-09-28, 公开日期: 2004-09-28
发明人:  COHEN, MITCHELL S.;  CORDES, MICHAEL J.;  CORDES, STEVEN A.;  HOGAN, WILLIAM K.;  JOHNSON, GLEN W.;  KUCHTA, DANIEL M.;  LACEY, DIANNE L.;  SPEIDELL, JAMES L.;  TREWHELLA, JEANNINE M.;  ZINTER, JOSEPH P.
Adobe PDF(150Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:50/0  |  提交时间:2019/12/26
Method of semiconductor wafer testing 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: US6013537, 申请日期: 2000-01-11, 公开日期: 2000-01-11
发明人:  KUCHTA, DANIEL M.
Adobe PDF(135Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:44/0  |  提交时间:2019/12/24
Semiconductor wafer testing method and apparatus 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: US5891746, 申请日期: 1999-04-06, 公开日期: 1999-04-06
发明人:  KUCHTA, DANIEL M.
Adobe PDF(137Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:45/0  |  提交时间:2019/12/26