中文版 | English

在结果中检索

OPT OpenIR

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN105865369A, 申请日期: 2016-08-17, 公开日期: 2016-08-17
发明人:  余学才;  肖景天;  任华西;  王晓庞
Adobe PDF(210Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2020/01/18