Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法 | |
| 其他题名 | 基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法 |
| 余学才; 肖景天; 任华西; 王晓庞 | |
| 2016-08-17 | |
| 专利权人 | 电子科技大学 |
| 公开日期 | 2016-08-17 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 本发明公开了一种基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法；其包括半导体激光器、透镜、平行平板组、CCD相机及数据处理单元。本发明采用非平行的相关光源，通过透镜和平行平板组组成的光学系统向待测量物体投影大面积干涉条纹，并由CCD相机接收经待测量物体所调制的畸变干涉条纹阵列图像，再利用数据处理单元进行图像处理，重建待测量物体表面三维轮廓，实现对待测量物体光学轮廓测量，具有快速、非接触、高精度、大面积的特点，具有广阔的应用前景。 |
| 其他摘要 | 本发明公开了一种基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法；其包括半导体激光器、透镜、平行平板组、CCD相机及数据处理单元。本发明采用非平行的相关光源，通过透镜和平行平板组组成的光学系统向待测量物体投影大面积干涉条纹，并由CCD相机接收经待测量物体所调制的畸变干涉条纹阵列图像，再利用数据处理单元进行图像处理，重建待测量物体表面三维轮廓，实现对待测量物体光学轮廓测量，具有快速、非接触、高精度、大面积的特点，具有广阔的应用前景。 |
| 申请日期 | 2016-05-23 |
| 专利号 | CN105865369A |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | CN201610343470.7 |
| 公开（公告）号 | CN105865369A |
| IPC 分类号 | G01B11/24 |
| 专利代理人 | 周永宏 | 王伟 |
| 代理机构 | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91369 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 电子科技大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 余学才,肖景天,任华西,等. 基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法. CN105865369A[P]. 2016-08-17. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN105865369A.PDF（210KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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