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半導体検査治具及び半導体検査装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2013002888A, 申请日期: 2013-01-07, 公开日期: 2013-01-07
发明人:  早水 勲
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電子部品試験装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2010151794A, 申请日期: 2010-07-08, 公开日期: 2010-07-08
发明人:  宮 貴則;  早水 勲;  田中 彰一
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半导体器件、半导体器件的制造方法及半导体器件的制造装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101471537A, 申请日期: 2009-07-01, 公开日期: 2009-07-01
发明人:  早水勋;  立柳昌哉
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半導体装置および半導体装置の製造方法、光ピックアップ装置および光ディスクドライブ装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2008084396A, 申请日期: 2008-04-10, 公开日期: 2008-04-10
发明人:  早水 勲;  田中 彰一
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光学デバイス,光学デバイスの製造方法および光ピックアップ装置ならびに光ディスクドライブ装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2007318075A, 申请日期: 2007-12-06, 公开日期: 2007-12-06
发明人:  三嶋 満博;  立柳 昌哉;  岡本 重樹;  早水 勲
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半导体器件 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101079413A, 申请日期: 2007-11-28, 公开日期: 2007-11-28
发明人:  早水勋;  田中彰一
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半導体レーザ装置の製造方法およびリードカット方法とリードカット用金型 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2006294657A, 申请日期: 2006-10-26, 公开日期: 2006-10-26
发明人:  大崎 裕人;  立柳 昌哉;  三嶋 満博;  大橋 慎一;  田村 佳和;  早水 勲;  岡本 重樹
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光学器件的试验装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN1835201A, 申请日期: 2006-09-20, 公开日期: 2006-09-20
发明人:  早水勲;  西川透;  立柳昌哉;  田中彰一
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半導体レーザ装置の検査装置における調整方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2005303187A, 申请日期: 2005-10-27, 公开日期: 2005-10-27
发明人:  早水 勲;  立柳 昌哉
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半導体装置の検査方法および検査装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2005167071A, 申请日期: 2005-06-23, 公开日期: 2005-06-23
发明人:  三嶋 満博;  立柳 昌哉;  早水 勲
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