Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 半導体レーザ装置の検査装置における調整方法 | |
| 其他题名 | 半導体レーザ装置の検査装置における調整方法 |
| 早水 勲; 立柳 昌哉 | |
| 2005-10-27 | |
| 专利权人 | 松下電器産業株式会社 |
| 公开日期 | 2005-10-27 |
| 授权国家 | 日本 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 【課題】半導体レーザ装置の検査装置の光学ユニットの調整において、高精度かつ短期間で調整することを可能にする。 【解決手段】調整用治具6に、位置決め装置2と光強度を測定するビームプロファイラ7を設置し、半導体レーザ装置1を位置決め装置2で固定する。半導体レーザ装置1の半導体レーザを発光させ、半導体レーザ装置1から出射した直接のレーザ光と、コリメートレンズ3にて整形された平行光11の重心が一致するように、コリメートレンズ3のX-Y位置の調整を行う。位置決め装置2とコリメートレンズ3の傾きについては、レーザ光の強度分布特性が対称となるように調整する。 【選択図】図3 |
| 其他摘要 | 要解决的问题：在短时间内精确调整半导体激光设备的检查装置的光学单元。 ŽSOLUTION：用于测量定位装置2的光束分析仪7和光功率被提供给用于调节的固定装置6，并且半导体激光装置1由定位装置2固定。准直透镜的XY位置被调节，使得从半导体激光装置1发射的直接激光束的中点和由准直透镜3成形的平行光束11是对应的。调节定位装置2和准直透镜3之间的倾斜度，使得激光束的强度分布特性是对称的。 Ž |
| 主权项 | - |
| 申请日期 | 2004-04-15 |
| 专利号 | JP2005303187A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | JP2004120288 |
| 公开（公告）号 | JP2005303187A |
| IPC 分类号 | G11B7/22 | G11B7/125 | H01S5/00 |
| 专利代理人 | 村山 光威 |
| 代理机构 | - |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56372 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下電器産業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 早水 勲,立柳 昌哉. 半導体レーザ装置の検査装置における調整方法. JP2005303187A[P]. 2005-10-27. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| JP2005303187A.PDF（46KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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