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测量荧光或冷光发射衰变的集成光电子系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN1793861A, 申请日期: 2006-06-28, 公开日期: 2006-06-28
发明人:  朱利恩·富凯;  伊安·哈蒂卡斯特勒;  若恩·P·赫宾;  安妮特·C·格罗特;  约翰·弗朗西斯·派特瑞拉
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