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一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011109442.1, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-03-12
发明人:  陈铁桥;  李思远;  李海巍;  王爽;  刘学斌;  张耿;  冯向朋;  陈小来;  刘强;  刘佳;  刘杰;  王一豪
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Summary of the R&D of 20-inch MCP-PMTs for neutrino detection 期刊论文
Journal of Instrumentation, 2021, 卷号: 16, 期号: 11
作者:  Wu, Q.;  Qian, S.;  Cao, Y.;  Huang, G.;  Jin, M.;  Jin, Z.;  Li, D.;  Liu, H.;  Li, K.;  Liu, S.;  Ma, L.;  Ren, L.;  Si, S.;  Sun, J.;  Tian, J.;  Wang, X.;  Zhan, H.;  Zhu, Y.
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